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多功能原子力顯微鏡是一種具有高分辨率的表面分析儀器，能夠提供物質(zhì)表面微觀結(jié)構(gòu)的三維圖像。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡不同，AFM不依賴任何形式的光學(xué)或電子成像，而是通過探針與樣品之間的物理作用力來獲取表面信息。AFM使用一個(gè)微小的探針（通常由硅或氮化硅制成，尖非常尖銳），在樣品表面進(jìn)行掃描。探針固定在柔性的懸臂上，當(dāng)......
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多功能原子力顯微鏡是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)，可以用于觀察和研究材料和生物樣品的表面形貌、物理性質(zhì)以及納米尺度上的力學(xué)性質(zhì)。通過不斷改進(jìn)和創(chuàng)新，它將在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)研究、納米電子學(xué)和材料力學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮更加重要的作用，并促進(jìn)相關(guān)領(lǐng)域的科學(xué)發(fā)展和技術(shù)進(jìn)步。多功能原子力顯微鏡基于原子尺度下相互作用力的測(cè)量和控制。其主要原理是......
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原子力顯微鏡探針是一種重要的納米測(cè)量和成像工具，具有高分辨率和精準(zhǔn)度。它利用一個(gè)非接觸式探針來感知樣品表面的微小力，并通過測(cè)量這些力來獲取樣品的拓?fù)鋱D像和力學(xué)性質(zhì)。AFM的核心部分是探針，也稱為探頭或探針尖。探針通常由單晶硅制成，其尖呈錐形或球形。它的尺寸通常在幾十納米到幾微米之間，取決于應(yīng)用需求。探針尖的尖銳程度對(duì)于......
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多功能原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）是一種重要的納米尺度表面形貌和力學(xué)性質(zhì)測(cè)量工具。它利用微小的探針來掃描樣品表面，并通過測(cè)量應(yīng)力或位移來生成高分辨率的圖像。它具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)等。通過不同模塊的組合，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的形貌、力學(xué)、電學(xué)和磁學(xué)性質(zhì)的綜合......
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